pretražni mikroskop s tuneliranjem

ilustracija
PRETRAŽNI MIKROSKOP S TUNELIRANJEM – 1. izvor tunelirajućega napona, 2. tunelirajući elektroni, 3. vrh mikroskopa, 4. uzorak

pretražni mikroskop s tuneliranjem (STM, akronim od engl. scanning tunneling microscope), mikroskop kojim se promatraju površine metala i drugih električki vodljivih materijala preciznošću na razini atoma. Najvažniji je dio STM-a oštri vrh od volframa, platine, iridija, ugljikove nanocijevi ili nekog drugog vodljivoga materijala koji u idealnom slučaju čini samo jedan ili nekoliko atoma. Kada je vrh blizu površine (nanometar i manje), u vakuumu između vrha i površine elektroni tuneliraju. Kako se vrh pomiče duž površine, zbog površinskih nepravilnosti i nehomogenosti na razini atoma, udaljenost i električna struja između vrha i površine se mijenjaju, a promjena jakosti struje može se interpretirati kao slika površine. Za otkriće STM-a Gerd Binnig i Heinrich Rohrer dobili su Nobelovu nagradu za fiziku 1986.

pretražni mikroskop s tuneliranjem. Hrvatska enciklopedija, mrežno izdanje. Leksikografski zavod Miroslav Krleža, 2018. Pristupljeno 14.12.2018. <http://www.enciklopedija.hr/Natuknica.aspx?ID=56413>.